?X射線能譜分析焊錫絲焊點失效
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??我們上篇所說的掃描電鏡（SEM）一般都是配有X射線能譜儀分析焊錫絲、焊錫條焊點失效的原因。當高能的電子束撞擊樣品表面時，表面物質的原子中的內層電子被轟擊逸出，外層電子向低能級躍遷時就會激發出特征X射線，不同元素的原子能級差不同，所發射的特征X射線就不同，因此，可以將樣品發出的特征X射線作為化學元素成分分析。
??在焊錫絲焊點的分析上，能譜儀主要用于焊點金相組織成分分析、可焊性不良的焊盤與引線腳表面污染物的元素分析。能譜儀的定量分析的準確度有限，低于0.1%的含量一般不易檢出。能譜與SEM結合使用可以同時獲得表面形貌與成分的信息，能更全面的分析焊錫絲焊點失效的原因，這是它們應用廣泛的原因所在。
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